Podrobnosti návrhu

Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible and foldable electro-mechanical devices

Číslo:47F/320/CDV - IEC 62047-35 ED1

Komise:IEC/SC 47F

K připomínkám do:15.02.2019

Tento návrh normy již není k dispozici. Připomínky byly odeslány k posouzení příslušné technické komisi nebo zpracovateli normy.