Podrobnosti návrhu

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

Číslo:49/1454/CDV - IEC 62276 ED4

Komise:IEC/TC 49

K připomínkám do:17.04.2024

Tento návrh normy již není k dispozici. Připomínky byly odeslány k posouzení příslušné technické komisi nebo zpracovateli normy.