Podrobnosti návrhu
Číslo:47F/475/CDV - IEC 62047-50 ED1
Zdroj:ISO\IEC\CEN\CENELEC
Komise:IEC/SC 47F
Název komise:Micro-electromechanical systems
Návrh uveřejněn:20.08.2024
K připomínkám do:8.11.2024
Oblast zaměření:Polovodiče
Contact email:aslana(at)agentura-cas.cz
Anotace:
This part of IEC 62047 defines the test conditions and test methods for the performance of MEMS capacitive microphone.
The standard applies to MEMS capacitive microphone
Tento dokument můžete připomínkovat po jednotlivých částech - stačí u příslušné části dokumentu vyplnit formulář v souladu s pokyny a kliknout na ‚Odeslat připomínku‘.
Prosíme, nepoužívejte vulgární výrazy a nevyužívejte tento prostor pro umisťování reklamy.