Podrobnosti návrhu

Semiconductor devices – The classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate

Číslo:47/2621/CDV - IEC 63229 ED1

Komise:IEC/TC 47

K připomínkám do:24.06.2020

Tento návrh normy již není k dispozici. Připomínky byly odeslány k posouzení příslušné technické komisi nebo zpracovateli normy.